[发明专利]一种测试覆盖率的评估方法

摘要

本发明揭示了一种测试覆盖率的评估方法，其包括如下步骤：步骤S1，在可测试性阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估；步骤S2，在夹具制造阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估；以及步骤S3，在最终测试阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估。本发明的有益效果是：通过步骤S1、步骤S2及步骤S3分别得到可测试性阶段、夹具制造阶段及最终测试阶段的测试覆盖率，简化了应用于在线测试机上的测试程序、缩短了夹具制作的周期。

主权项

一种测试覆盖率的评估方法，其特征在于，该评估方法用以测试被测试对象的覆盖率，所述被测试对象包括元器件及对应该元器件的引脚，所述元器件包括数字器件及模拟器件，所述评估方法包括如下步骤：步骤S1，在可测试性阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S1包括： 步骤S11，对元器件的元器件库进行分析，如果对应元器件的引脚已被赋值，那么该引脚被认为已被测试覆盖到；步骤S2，在夹具制造阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S2包括步骤S21及步骤S22，引脚只有在步骤S21及步骤S22中均被覆盖到，那么该引脚才被认为已被测试覆盖到；  步骤S21，对元器件的元器件库进行分析，如果对应元器件的引脚已被赋值，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到；  步骤S22，对被测试对象的版图检测报告进行分析，如果引脚有测试点，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到，如果该引脚没有测试点，但是该引脚在多个边界扫描器件的连接网线上，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到；以及步骤S3，在最终测试阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S3包括：  步骤S31，对对应数字器件的引脚进行测试覆盖率评估；  步骤S32，对模拟器件的稳定性进行评估；以及  步骤S33，对元器件的存在性进行评估。