[发明专利]一种测试覆盖率的评估方法有效
| 申请号： | 201010587168.9 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN102565664A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 赵怡 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区谱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种测试覆盖率的评估方法，其包括如下步骤：S1，提供待测电路板，所述电路板上安装有待测器件及对应于待测器件的若干网线，所述待测器件设有与网线相连的引脚；S2，利用边界扫描仪对与待测器件相连的网线进行测试，得到网线覆盖率；S3，对网线覆盖率进行计算，以得到待测器件的引脚的覆盖率。本发明的有益效果是：通过对网线覆盖率进行计算，板级测试人员能够得到更加详细的引脚的覆盖率，以便于测试人员找出哪些器件和引脚需要更多的进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 覆盖率 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种测试覆盖率的评估方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： S1，提供待测电路板，所述电路板上安装有待测器件及对应于待测器件的若干网线，所述待测器件设有与网线相连的引脚； S2，利用边界扫描仪对与待测器件相连的网线进行测试，得到网线覆盖率； S3，对网线覆盖率进行计算，以得到待测器件的引脚的覆盖率。
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