[发明专利]非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法无效
| 申请号： | 201010587172.5 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN102103104A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 张亚萍;张鑫 | 申请（专利权）人： | 天津市津能电池科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300384 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法，检测步骤如下：(1)将电池板平置于测试平台上，打开稳定光源；(2)将万用表置于直流电压档，两表笔分别接在各子电池上，从一侧进行测试；(3)记录所测电压值；(4)再从另一侧进行测试，记录所测电压值；(5)比较测试结果，数据明显较小的子电池可判断为激光刻划有问题。本发明采用光照下开路电压的测试方法，仪器简单，测试结果稳定易分析，通过测试可以明确确定激光的刻划质量，为不合格电池性能的分析提供有力的证据，进而有效指导激光工艺改进方向，提高电池质量。 | ||
| 搜索关键词： | 非晶硅 太阳电池 激光 刻划 效果 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法，其特征在于：检测步骤如下：(1)将电池板平置于测试平台上，打开稳定光源；(2)将万用表置于直流电压档，两表笔分别接在各子电池上，从一侧进行测试；(3)记录所测电压值；(4)再从另一侧进行测试，记录所测电压值；(5)比较测试结果，数据明显较小的子电池可判断为激光刻划有问题。
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