[发明专利]Z字形高灵敏度光纤弯曲损耗检测装置

摘要

本发明公开了一种Z字形高灵敏度光纤弯曲损耗检测装置，包括供信号光纤穿过的两个及两个以上的一字形测试通道、与信号光纤相接的测试单元和与测试单元相接的处理单元；一字形测试通道包括Z字形支架、在Z字形支架的两个及两个以上的下凹处的相对两侧布设有多组变形齿一和多组变形齿二，多组变形齿一和多组变形齿二的头部之间形成供一个或多个信号光纤穿过的两个及两个以上的一字形通道，变形齿一和变形齿二对应布设在信号光纤两侧；还包括两个导向杆，导向杆垂直贯通于整个Z字形支架且与一字形测试通道相垂直，导向杆与Z字形支架滑动配合。本发明结构设计合理，使用效果好，适应能力强，且测试结果灵敏、准确。

主权项

一种Z字形高灵敏度光纤弯曲损耗检测装置，其特征在于：包括供信号光纤(6)穿过的两个及两个以上的一字形测试通道、与信号光纤(6)相接且对信号光纤(6)中的光信号功率变化量进行同步测试的测试单元(5)和与测试单元(5)相接且对测试单元(5)的测试结果进行分析处理的处理单元(7)；所述两个及两个以上的一字形测试通道包括在端部所施加外应力F的作用下能发生变形并相应压弯信号光纤(6)的Z字形支架(10)、在Z字形支架(10)的两个及两个以上的下凹处的相对两侧布设有多组变形齿一(4‑1)和多组变形齿二(4‑2)，每一组变形齿一(4‑1)均包括一个变形齿一(4‑1)或并排布设的多个变形齿一(4‑1)，每一组变形齿二(4‑2)均包括一个变形齿二(4‑2)或并排布设的多个变形齿二(4‑2)，多组变形齿一(4‑1)和多组变形齿二(4‑2)之间呈交错对应布设且二者的头部之间形成供一个或多个信号光纤(6)穿过的两个及两个以上的一字形通道，所述变形齿一(4‑1)和变形齿二(4‑2)对应布设在信号光纤(6)两侧；还包括两个导向杆(25)，所述导向杆(25)垂直贯通于整个Z字形支架(10)且与所述一字形测试通道相垂直，所述导向杆(25)与Z字形支架(10)滑动配合，所述Z字形支架(10)由在信号光纤(6)的发生弯曲平面上随温度变化发生伸缩变形且变形量与变形齿一(4‑1)和变形齿二(4‑2)在信号光纤(6)的发生弯曲平面上的变形量相抵消的上安装节段(21)和下安装节段(22)组成，所述上安装节段(21)与下安装节段(22)呈间隔布设且相互连接，所述变形齿一(4‑1)和变形齿二(4‑2)分别安装在上安装节段(21)和下安装节段(22)上。