[发明专利]一种半导体激光器寿命测试装置

摘要

本发明公开了一种半导体激光器寿命测试装置，包括光学平台，光学平台上设有平行导轨和激光器水冷阵列；平行导轨上设有电动平移台，电动平移台上固定着积分球和功率探测PD，积分球通过光纤连接有光谱仪，光谱仪连接至工控机上；功率探测PD通过采集卡与工控机连接；激光器水冷阵列的旁侧设有温度采集模块，温度采集模块连接至工控机；电动平移台通过控制电缆连接平移台控制器，平移台控制器连接到工控机上。该系统可针对不同封装类型、不同功率及数量的激光器产品进行自动参数测试。在工作过程中自动对所测激光器产品的功率及光谱信息进行采集并记录，并可进行自动报表打印数据，形成测试报告，为激光器产品失效分析及研究提供依据。

主权项

一种半导体激光器寿命测试装置，包括光学平台(1)以及设置在光学平台(1)上的工控机(10)，其特征在于：所述光学平台(1)上还设有平行导轨(2)和激光器水冷阵列(4)，所述激光器水冷阵列(4)与所述平行导轨(2)相互平行；所述平行导轨(2)上设有电动平移台，所述电动平台上固定着积分球(3)和光功率探测器，所述积分球(3)通过光纤连接有光谱仪(6)，所述光谱仪(6)连接至工控机(10)上；所述功率探测PD通过采集卡与工控机(10)连接；所述激光器水冷阵列(4)的旁侧还设有温度采集模块，所述温度采集模块的输出端连接至工控机(10)的输入端；所述电动平移台通过控制电缆连接有平移台控制器，所述平移台控制器连接到工控机(10)上。