[发明专利]基于NTN校准与K-K变换的采样示波器精细相位响应重构方法无效

专利信息
申请号: 201010592035.0 申请日: 2010-12-16
公开(公告)号: CN102121975A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 林茂六;徐清华;张亦弛;张喆;时颖 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 牟永林
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于NTN校准与K-K变换的采样示波器精细相位响应重构方法,属于高速电子学计量技术领域。它解决了依靠NTN校准获得采样示波器的相位响应存在频率分辨率低的问题。它首先在理论上对示波器的幅度响应函数h(f)进行变换,得到相位响应函数φ(f);将工程实际中带有截断误差的示波器的幅度响应函数经过变换得到相位响应函数φΩ(f);进而得到相位误差函数Δ(f);对相位误差函数Δ(f)做近似展开,并进行正交化;根据由NTN校准法得到的相位与φΩ(f)对应频率点上的相位的差值计算,获得基函数的系数值,再对工程实际中示波器的相位响应函数φΩ(f)进行修正,得到工程实际中采样示波器的精细相位响应函数。本发明用于获得采样示波器的精细相位响应。
搜索关键词: 基于 ntn 校准 变换 采样 示波器 精细 相位 响应 方法
【主权项】:
一种基于NTN校准与K‑K变换的采样示波器精细相位响应重构方法,其特征在于:它包括以下步骤:步骤一:在理论上对示波器的幅度响应函数h(f)进行Kramers‑Krong变换,得到理论上示波器的相位响应函数φ(f);步骤二:将工程实际中带有截断误差的示波器的幅度响应函数经过Kramers‑Krong变换得到工程实际中示波器的相位响应函数φΩ(f);步骤三:由步骤一和步骤二获得工程实际中截断之后的相位误差函数Δ(f);步骤四:对相位误差函数Δ(f)做近似展开,并对展开后获得的基函数进行正交化;步骤五:根据由NTN校准法得到的相位与φΩ(f)对应频率点上的相位的差值计算,获得所述正交化的基函数的系数值,结合采样值对工程实际中示波器的相位响应函数φΩ(f)进行修正,得到工程实际中采样示波器的精细相位响应函数。
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