[发明专利]一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法有效

专利信息
申请号: 201010594927.4 申请日: 2010-12-17
公开(公告)号: CN102023631A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 甘大方;郑召北;吕春兰 申请(专利权)人: 北京布莱迪仪器仪表有限公司
主分类号: G05B23/00 分类号: G05B23/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明
地址: 100164 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法,包括:放置SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间;连接SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路;调节标准压力检测装置的压力至与预设检验温度对应的器内压力;确定SF6密度控制器的显示压力;确定SF6密度控制器温度补偿准确性。在本发明公开的方法中,只将SF6密度控制器放入恒温箱中,在恒温箱空间不变的情况下可以放入更多SF6密度控制器,提高了检测效率;由标准压力检测装置来模拟充有SF6气体的容器在不同温度下的压力变化,不存在SF6气体液化的问题,在检测温度为-40℃时也可以对SF6密度控制器的温度补偿准确性进行检测。
搜索关键词: 一种 检验 sf sub 密度 控制器 温度 补偿 准确性 方法
【主权项】:
一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法,其特征在于,包括:放置所述SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间;连接所述SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路;调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力;确定所述SF6密度控制器的显示压力;判断所述SF6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致,若一致,则所述SF6密度控制器的温度补偿准确,否则所述SF6密度控制器的温度补偿不准确。
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