[发明专利]制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法无效

专利信息
申请号: 201010597849.3 申请日: 2010-12-21
公开(公告)号: CN102097106A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 高云;张兴旺;尹志岗;屈盛;高红丽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G11B5/851 分类号: G11B5/851
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法,该方法包括:步骤1:在衬底上,溅射一层缓冲层;步骤2:在缓冲层上溅射一层取向诱导层;步骤3:利用浸涂或者旋涂的方法,在取向诱导层上自组装一层磁性纳米颗粒阵列;步骤4:在磁性纳米颗粒阵列上溅射一层盖层,形成基片;步骤5:对基片进行退火处理,完成磁记录介质的制备。
搜索关键词: 制备 垂直 取向 图案 记录 介质 方法
【主权项】:
一种制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法,该方法包括:步骤1:在衬底上,溅射一层缓冲层;步骤2:在缓冲层上溅射一层取向诱导层;步骤3:利用浸涂或者旋涂的方法,在取向诱导层上自组装一层磁性纳米颗粒阵列;步骤4:在磁性纳米颗粒阵列上溅射一层盖层,形成基片;步骤5:对基片进行退火处理,完成磁记录介质的制备。
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