[发明专利]制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法无效
申请号: | 201010597849.3 | 申请日: | 2010-12-21 |
公开(公告)号: | CN102097106A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 高云;张兴旺;尹志岗;屈盛;高红丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G11B5/851 | 分类号: | G11B5/851 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法,该方法包括:步骤1:在衬底上,溅射一层缓冲层;步骤2:在缓冲层上溅射一层取向诱导层;步骤3:利用浸涂或者旋涂的方法,在取向诱导层上自组装一层磁性纳米颗粒阵列;步骤4:在磁性纳米颗粒阵列上溅射一层盖层,形成基片;步骤5:对基片进行退火处理,完成磁记录介质的制备。 | ||
搜索关键词: | 制备 垂直 取向 图案 记录 介质 方法 | ||
【主权项】:
一种制备c轴垂直取向图案化磁记录介质的方法,该方法包括:步骤1:在衬底上,溅射一层缓冲层;步骤2:在缓冲层上溅射一层取向诱导层;步骤3:利用浸涂或者旋涂的方法,在取向诱导层上自组装一层磁性纳米颗粒阵列;步骤4:在磁性纳米颗粒阵列上溅射一层盖层,形成基片;步骤5:对基片进行退火处理,完成磁记录介质的制备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010597849.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。