[发明专利]太阳能晶片的掺杂方法以及掺杂晶片有效

专利信息
申请号: 201010599446.2 申请日: 2010-12-17
公开(公告)号: CN102569495A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 陈炯;钱锋;洪俊华 申请(专利权)人: 上海凯世通半导体有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0352;H01L31/068
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 薛琦;朱水平
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种太阳能晶片的掺杂方法包括以下步骤:在N型基底表面形成N+型掺杂层;在该N+型掺杂层表面形成掺杂阻挡层;在该掺杂阻挡层表面形成具有图样的薄膜;蚀刻开放区域的掺杂阻挡层和N+型掺杂层,并在该具有图样的薄膜下方靠近该开放区域的一端的该掺杂阻挡层和N+型掺杂层中形成侧蚀,其中蚀刻深度至少为该掺杂阻挡层和该N+型掺杂层厚度的总和;通过离子注入的方式将P型离子注入至N型基底中以形成P+型掺杂区域,其中,该P+型掺杂区域与该N+型掺杂层互不接触;去除该具有图样的薄膜以及该掺杂阻挡层。本发明公开了一种掺杂晶片。本发明简化了工艺步骤,无需购买光刻机,无需使用多张掩模板,不存在掩模板校准问题且降低了制作成本。
搜索关键词: 太阳能 晶片 掺杂 方法 以及
【主权项】:
一种太阳能晶片的掺杂方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤S1、在N型基底表面形成N+型掺杂层;步骤S2、在该N+型掺杂层表面形成掺杂阻挡层;步骤S3、在该掺杂阻挡层表面形成具有图样的薄膜,其中,未被该具有图样的薄膜覆盖的区域为开放区域;步骤S4、蚀刻去除该开放区域的掺杂阻挡层以及N+型掺杂层,并在该具有图样的薄膜下方靠近该开放区域的一端的该掺杂阻挡层和N+型掺杂层中形成侧蚀,其中蚀刻深度至少为该掺杂阻挡层和该N+型掺杂层厚度的总和;步骤S5、加速P型离子并通过离子注入的方式将该P型离子从该N型基底的表面的该开放区域注入至N型基底中以形成P+型掺杂区域,其中,该P+型掺杂区域与该未经蚀刻的N+型掺杂层互不接触;步骤S6、去除该具有图样的薄膜以及该掺杂阻挡层,其中,所述的P型替换为N型时,N型同时替换为P型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海凯世通半导体有限公司,未经上海凯世通半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010599446.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top