[发明专利]单片光伏电池芯片的检测方法无效
| 申请号： | 201010599855.2 | 申请日： | 2010-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN102565065A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 倪夜光 | 申请（专利权）人： | 上海山晟太阳能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201300 上海市浦东新区沪*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 单片光伏电池芯片的检测方法。其检测方法，调整输入电流，曝光时间，存储路径，序列号，观察显示器上显示的单片光伏电池芯片图像，按性能分档的测试过程；所述的输入电流在1A～10A范围内，曝光时间在0.1s～25s范围内。其主要利用光伏电池芯片的电致发光原理来完成的，所以，光伏电池芯片电致发光图像直观的展现出了光伏电池芯片的扩散长度的分布特征，通过该图像的分析，可以有效的发现光伏电池芯片隐裂，断栅，材料不良，边缘短路等问题并通过测试得出光伏电池芯片性能特征进行分档，对太阳能电池组件提供优化的配置，增大了输出功率，提高了太阳能电池组件一次合格率，最终可以杜绝问题组件流入市场。 | ||
| 搜索关键词： | 单片 电池 芯片 检测 方法 | ||
【主权项】：
单片光伏电池芯片的检测方法，包括设定工作温度为25℃，湿度为60％的工作环境，配置单相电源220V，10A在内；其特征在于：其检测方法，调整单片光伏电池芯片的输入电流，曝光时间，存储路径，序列号，观察显示器上显示的单片光伏电池芯片图像，按性能分档的测试过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海山晟太阳能科技有限公司，未经上海山晟太阳能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010599855.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：mSATA接口测试卡及测试系统
- 下一篇：一种防爆排气系统
