[发明专利]燃烧器系统中的杂质检测有效
| 申请号： | 201010601870.6 | 申请日： | 2010-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN102095198A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | P·M·桑维克;R·D·斯拉特斯;A·V·维尔特;S·阿尔加巴里 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | F23D11/00 | 分类号： | F23D11/00;G01N21/71 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 朱铁宏;谭祐祥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及燃烧器系统中的杂质检测。具体而言，本发明公开了一种燃烧器系统(10)和测量燃烧系统(10)中的杂质的方法。该燃烧系统(10)包括上游的燃料喷射点(18)；下游的涡轮燃烧器(20)；位于涡轮燃烧器(20)中的包括多个轴向子区(32，34，36，38)的火焰区(22)；构造成用以实现对多个轴向子区(32，34，36，38)中的至少一个进行非轴向的、直接光学观察的光学端口组件(24)；以及与光学端口组件(24)构成光学通信的杂质检测系统(26)。 | ||
| 搜索关键词： | 燃烧 系统 中的 杂质 检测 | ||
【主权项】：
一种燃烧器系统(10)，包括：上游燃料喷射点(18)；下游涡轮燃烧器(20)；火焰区(22)，其位于所述涡轮燃烧器(20)中包括多个轴向子区(32，34，36，38)；光学端口组件(24)，其构造成用以实现对所述多个轴向子区(32，34，36，38)中的至少一个进行非轴向的、直接的光学观察；以及与所述光学端口组件(24)构成光学通信的杂质检测系统(26)。
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