[发明专利]X射线荧光光谱分析谱线重叠校正方法

摘要

X射线荧光光谱分析谱线重叠校正方法，其步骤如下：1)Y元素YKa谱线和X元素XLa谱线重叠，Y元素YKa谱线真实强度 I1Y＝IY测－I1X；2)选取含Y元素不含X元素标准样品，根据Y元素百分含量Wi和测得Y元素真实荧光总强度Ii建立校准曲线，校准曲线公式：  Wi＝a×Ii＋bY元素灵敏度 M＝1/a；3)含Y元素和X元素标准样品，计算YKa位置XLa重叠荧光强度 I1X＝K×IXKA＝M×C谱线重叠校正系数K＝IY测－M×C/IXKA；4)测得校正后Y元素谱线的荧光强度为真实强度 I1Y＝IY测－K×IXKA.。优点：降低了生产试验成本，并简化谱线重叠强度校正方法。

主权项

X射线荧光光谱分析谱线重叠校正方法，其步骤如下：1）、Y元素的YKa谱线和X元素的XLa谱线重叠，Y元素YKa谱线的真实强度  I1Y＝IY测－I1X式中：I1Y－YKa位置Y元素的真实荧光强度          I1X－YKa位置XLa重叠的荧光强度IY测－YKa位置得Y元素的荧光总强度，包括重叠元素谱线的强度2）、选取含Y元素不含X元素的标准样品或生产中选取的样品，根据Y元素百分含量Wi和测得Y元素的真实荧光总强度Ii建立校准曲线，校准曲线公式   Wi＝a×Ii＋b式中：a－校准曲线斜率          b－常数Y元素灵敏度  M＝1/ a式中：M－（kcps/%）是元素测量强度相对含量的变化率 3）、含Y元素和X元素的标准样品或生产中选取的样品，计算YKa位置XLa重叠的荧光强度  I1 X＝K×IXKA式中：K－谱线重叠校正系数  K＝I1 X/ IXKA依据公式  I1Y＝IY测－I1X，IY测＝I1Y＋I1X 则K＝IY测－I1Y/ IXKAI1Y的计算引入Y元素灵敏度M进行计算，I1Y＝M×C   C为样品中Y元素的百分含量谱线重叠校正系数K＝（IY测－M×C）/ IXKA4）、将谱线重叠校正系数K代入校正程序中，同时重新测量Y元素YKa谱线和X元素XKa谱线荧光强度，测得校正后Y元素谱线的荧光强度为真实强度  I1Y＝IY测－K×IXKA。