[发明专利]电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法有效
| 申请号： | 201010607111.0 | 申请日： | 2010-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN102128823A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 吴云华;刘雪英;杨秀伟 | 申请（专利权）人： | 蓝星化工新材料股份有限公司江西星火有机硅厂 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人： | 施秀瑾 |
| 地址： | 330319 *** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法。首先采用适量的盐酸和过氧化氢溶解铜试样，用%的HCl洗涤至无铜离子；其次是标准溶液的配制，它可以用于标准系列及校正系数的测定。分析测定中选定的分析谱线为Cu222.778(150)nm、Pb220.353(152)。本发明仪器操作参数采取IRIS型ICP全谱直读光谱仪（美国热电公司）仪器测定条件：积分时间：长波25s，短波5s；样品冲洗时间30s；高频输出工功率1150W；雾化压力20Psi，辅助气流量0.5L/min，泵速100rpm，雾化器位置7mm。优点：该检测方法具有简便、快速、准确的特点，同时具有较好的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 电感 耦合 等离子体 发射 光谱 测定 铜中铅 含量 方法 | ||
【主权项】：
电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法，其特征在于：仪器参数的选择：IRIS型ICP全谱直读光谱仪，仪器测定条件：长波25s，短波5s；样品冲洗时间30s；高频输出工功率1150W；雾化压力20Psi，辅助气流量0.5L/min，泵速100rpm，雾化器位置 7mm。
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