[发明专利]一种用于闪存存储器的擦除方法无效
| 申请号： | 201010609012.6 | 申请日： | 2010-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102543194A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 楼冰泳;肖磊;廖少武 | 申请（专利权）人： | 上海复旦微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 张妍 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于闪存存储器的擦除方法，该方法包含预编程校验—预编程、擦除校验—擦除、过擦除校验—过擦除纠正三个大的操作步骤，包含擦除标志位和过擦除标志位两个状态标志位，包含一个擦除—过擦除的回路，当回路的循环次数超过事先设定次数，则跳出擦除操作。本发明缩短了擦除时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 闪存 存储器 擦除 方法 | ||
【主权项】：
一种用于闪存存储器的擦除方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1、预编程校验，若有单元处于擦除状态，对该单元进行预编程；步骤2、将擦除标志位清零；步骤3、内部进行擦除校验，若校验失败，则跳转到步骤4，若校验通过，则跳转到步骤5；步骤4、对处于欠擦除状态的扇区或区块进行擦除操作，将擦除标志位置1，跳转到步骤3；步骤5、将过擦除标志位清零；步骤6、判断擦除标志位是否为零，若是，则跳转到步骤10，若否，则跳转到步骤7；步骤7、内部进行过擦除校验，若校验失败，则跳转到步骤8，若校验通过，则跳转到步骤9；步骤8、对存在过擦除的单元进行过擦除纠正，将过擦除标志位置1，跳转到步骤7；步骤9、环路计数器加1；步骤10、判断过擦除标志位是否为1，若是，则跳转到步骤11，若否，则擦除成功；步骤11、判断环路计数器的数值是否小于N，若是，则跳转到步骤2，若否，则跳出，擦除失败。
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