[发明专利]光纤陀螺仪半成品探测板检测方法有效
| 申请号： | 201010610806.4 | 申请日： | 2010-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102128638A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 虞翔;曾玉兰 | 申请（专利权）人： | 上海亨通光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人： | 徐小蓉 |
| 地址： | 200436 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及光纤陀螺半成品的测试领域，具体讲的是一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，该方法包括如下步骤：（A）在标准条件下，对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常，若是，进入步骤（B）；否则，返修后重复上述步骤；（B）将所述探测电路板涂刷三防漆，之后进行高低温环境下不通电老化；（C）将步骤（B）中所产生之半成品探测板进行随机振动，及在振动过程中对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常；（D）将步骤（C）中检测合格之半成品探测板进行高低温环境下的梯度循环测试。本发明的优点是：数字逻辑电路模块及A\D转换器、D\A转换器都采用探测电路板现有的，输出模块亦是现有的单片机模块，不需要另外添置硬件设备以增加成本。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 陀螺仪 半成品 探测 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于该方法包括如下步骤：（A）在标准条件下，对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常，若是，进入步骤（B）；否则，返修后重复上述步骤；（B）将所述探测电路板涂刷三防漆，之后进行高低温环境下不通电老化；（C）将步骤（B）中所产生之半成品探测板进行随机振动，及在振动过程中对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常；（D）将步骤（C）中检测合格之半成品探测板进行高低温环境下的梯度循环测试。
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