[发明专利]一种基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统及方法无效
申请号: | 201010619704.9 | 申请日: | 2010-12-31 |
公开(公告)号: | CN102184746A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 朱立谷;赵廷涛 | 申请(专利权)人: | 中国传媒大学 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张杰 |
地址: | 100024 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统,包括测试管理模块、数据采集模块、粒子群建立模块、参数优化调整模块、负载测试模块、测试数据分析模块、测试结果输出模块,解决了现有技术中需要人工设置测试参数、分析测试结果来得到测试参数的最优值,在多个测试参数的情况下寻找最优值存在测试效率低,准确性不高的问题,是一种可以快速准确的得到出文件系统存储性能的最优测试参数的基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统及方法,特别适用于有多个测试参数的情况下测试系统性能的最优值的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 粒子 算法 优化 参数 存储 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统,其特征在于:包括测试管理模块、数据采集模块、粒子群建立模块、参数优化调整模块、负载测试模块、测试数据分析模块、测试结果输出模块,测试管理模块:为用户提供人机交互的管理界面,通过所述管理界面用户来启动或停止测试、输入多个测试参数;数据采集模块:采集、记录和整理用户通过所述测试管理模块输入的所述多个测试参数,检查所述多个测试参数是否可用、是否符合输入规则;粒子群建立模块:分析所述数据采集模块的输入的多个测试参数,以所述多个测试参数为粒子构建一个粒子群模型,并进行初始化;参数优化调整模块:先获得当前粒子群模型中各个粒子的状态,然后根据所述测试数据分析模块中获得的最优值,按照粒子群优化算法,确定下一次测试时各个粒子的参数值;负载测试模块:执行测试,根据所述参数优化调整模块中确定的参数值,调用测试程序对文件系统进行测试,测试完成后输出测试结果;测试数据分析模块:接收所述负载测试模块输出的测试结果,与之前的测试结果进行对比分析,获得结果的最优值,确定全局最优值和局部最优值,并记录此时的粒子群模型中的粒子状态;测试结果输出模块:输出测试过程中产生的中间结果和测试完成后的最终结果。
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