[发明专利]一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置

摘要

本发明提供了一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置；方法包括：分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量；n为大于或等于2的整数；分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作，得到平滑后的伪距；将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程；根据量测方程进行估值，将所得到的r的估值作为伪距观测量估计值。本发明在大为降低的多径和测量噪声基础上，剔除了电离层的影响，从而显著提高伪距的估计精度。

主权项

1.一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法，包括：分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量；n为大于或等于2的整数；分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作，得到平滑后的伪距；将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程：Z＝HX+V；其中：Z=P~1P~2...P~nH=d1f12d2d1f22d2...d1fn2d2]]>X=TECeffrV=δP~1δP~2...δP~n;]]>TEC_eff和r为待估计量，f_i为频点i的频率，为频点i上被充分抑制的伪距测量噪声和多径；i为从1开始，到n为止的整数，包括1和n；d₁和d₂为常数；根据上述量测方程对TEC_eff和r进行估值，将所得到的r的估值作为伪距观测量估计值。