[发明专利]一种光谱分析方法无效
| 申请号： | 201010622421.X | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102103080A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 吴继明;张东明;吕全超 | 申请（专利权）人： | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/62 | 分类号： | G01N21/62;G01N21/63 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光谱分析方法，包括以下步骤：A、建立分析模型：激发标准样品，获得原子光谱信息；从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线，m≥2；根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量，建立分析模型；B、分析未知样品：按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据，并代入上述分析模型，得到未知样品相应分析元素的含量。本发明具有分析模型稳健、分析准确、重现性好等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种光谱分析方法，包括以下步骤：A、建立分析模型激发标准样品，获得原子光谱信息；从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线，m≥2；根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量，建立分析模型；B、分析未知样品按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据，并代入上述分析模型，得到未知样品相应分析元素的含量。
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