[发明专利]集成电路下层硬件映射方法、数据控制流生成方法及装置

摘要

本发明公开了一种集成电路下层硬件映射方法及装置，通过对描述集成电路算方法的计算机语言程序进行分析，并将其映射为描述集成电路算法的数据控制流图，再转换为相应的算子时空图，并对数据控制流图进行时序约束，从而根据时序标注对算子时空图进行聚类压缩，再生成集成电路下层硬件电路逻辑描述，从而创造了一种从计算机语言到集成电路下层硬件电路逻辑描述的映射工具，标准化地实现了集成电路从C或MATLAB等语言生成下层硬件的过程，实现起来方便快捷。本发明公开的数据控制流生成方法及装置通过对计算机语言程序分析得到其相应的数据相关性、数据可并行性和相应控制信息等，从而生成相应的数据控制流图，帮助硬件工程师进行硬件设计。

主权项

集成电路下层硬件映射方法，其特征在于包括：程序分析步骤，用于读取描述集成电路算法的计算机语言程序，根据该计算机语言的规则从所述计算机语言程序中识别出被映射的执行对象和参数对象；数据控制流图生成步骤，用于将识别出的执行对象和参数对象映射成描述集成电路算法的数据控制流图中的相应节点；算子时空图生成步骤，用于根据数据控制流图中的各节点所进行的功能处理从预先建立的算子单元库中取出对应功能的至少一个算子单元，将数据控制流图转换成由算子单元组成的算子时空图；时序约束步骤，用于根据用户规格需求和目标集成电路工艺的要求确定出总时序约束，对算子时空图中的每个算子单元标注时间，对算子时空图的每个层级进行时序约束；时空图压缩步骤，用于根据时间标注对时空图进行空间上的聚类压缩，并使之总体算法执行时间最接近于总时序约束；下层硬件映射步骤，根据聚类压缩后的时空图生成集成电路下层硬件逻辑描述。