[实用新型]测试系统及其试片结构无效

专利信息
申请号: 201020003695.6 申请日: 2010-01-18
公开(公告)号: CN201662554U 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 史德智;唐明中;王殿臣;许礼汎;谢沧岩 申请(专利权)人: 长庚医疗器材股份有限公司;明志科技大学
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郑小军;冯志云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开一种测试系统及其具有辨识功能的试片结构。根据本实用新型的实施例,提供一种具有辨识功能的试片,试片包含一试片本体、一测试单元、一辨识单元、一测试端子、一温度感测单元以及一湿度感测单元,其中,辨识单元为一连续导线图案。测试装置则包含了一读取接口单元、一微处理单元、一显示单元以及一存储器单元。其中,测试装置可容纳试片,并通过读取接口单元读取试片的辨识单元的辨识信号以及测试单元的测试信号,最后根据辨识信号于存储器单元所对应的特性数据及校正参数以及测试信号进行计算,可获得一个测试结果,并显示于显示单元。本实用新型可对于使用者或是病患产生极大程度的便利性,并可获得准确的测试结果。
搜索关键词: 测试 系统 及其 试片 结构
【主权项】:
一种试片结构,其可容纳于一多功能测试装置中,其特征在于,包括:一测试单元,位于该试片上;一测试端子,位于该试片的一端,具有多个导电端子,且所述多个导电端子至少之一与该测试单元电性连接;以及一辨识单元,位于该试片的一侧,该辨识单元为一连续导线图案以供该多功能测试装置读取并产生一辨识信号。
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