[实用新型]金属氧化物场效应二极管及MOS二极管无效

专利信息
申请号: 201020022576.5 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN201611660U 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 王毅;施立秋;沈克强;蒋李望 申请(专利权)人: 扬州扬杰电子科技有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L27/08
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 奚衡宝
地址: 225008 江苏省扬州市平*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 金属氧化物场效应二极管及MOS二极管。涉及一种二极管元胞以及由多个元胞集成的二极管芯片。以硅片为基材,它包括栅、源、漏、源N+区、漏N+区、P+区、P阱区、正极片和负极片;源N+区的顶面为源极,漏N+区的底面为漏极,栅的顶面为栅极;硅片设有上、下两层,上层为高阻区,下层为漏N+区;源N+区、P+区和P阱区均设于高阻区的上部;正极片设于硅片顶面,负极片设于漏N+区的底面;栅极和源极相互短接;源N+区同栅、P+区、P阱区及正极片相连;P+区还同P阱区及正极片相连;P阱区还同栅及高阻区相连。本实用新型中通过MOS工艺集成的MOS二极管它包含至少二个所述一种金属氧化物场效应二极管,相互并联集成于所述硅片上。本实用新型的产品速度快,频率高。
搜索关键词: 金属 氧化物 场效应 二极管 mos
【主权项】:
金属氧化物场效应二极管,以硅片为基材,其特征在于,它包括栅、源、漏、源N+区、漏N+区、P+区、P阱区、正极片和负极片;源N+区的顶面为源极,漏N+区的底面为漏极,栅的顶面为栅极;所述硅片设有上、下两层,上层为高阻区,下层为漏N+区;所述源N+区、P+区和P阱区均设于所述高阻区的上部;所述正极片设于硅片顶面,负极片设于漏N+区的底面;所述栅极和源极相互短接;所述源N+区同栅、P+区、P阱区及正极片相连;P+区还同P阱区及正极片相连;P阱区还同栅及所述高阻区相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州扬杰电子科技有限公司,未经扬州扬杰电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020022576.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top