[实用新型]测径仪光学元件调整检测装置无效
申请号: | 201020033073.8 | 申请日: | 2010-01-14 |
公开(公告)号: | CN201611252U | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 陈虎秋 | 申请(专利权)人: | 宝山钢铁股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 上海集信知识产权代理有限公司 31254 | 代理人: | 周成 |
地址: | 201900 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测径仪光学元件调整检测装置,该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端,包括连接管和成像镜,连接管一端与摄像机镜头连接固定,成像镜设于连接管的另一端,并与连接管连接固定。该检测装置利用光线经过光学元件最终在成像镜上的成像来反映光学元件的调整情况,从而为光学元件的调整提供精确参照,从而无需拆卸光学系统盘,便能够实现快速调整,不但降低了调整难度和所需时间,而且还保证了连续生产的效率。 | ||
搜索关键词: | 测径仪 光学 元件 调整 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种测径仪光学元件调整检测装置,该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端,其特征在于:该检测装置包括连接管和成像镜,连接管一端与摄像机镜头连接固定,成像镜设于连接管的另一端,并与连接管连接固定。
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