[实用新型]一种离子源引出装置无效

专利信息
申请号: 201020111922.7 申请日: 2010-02-05
公开(公告)号: CN201655740U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 何坚 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;H01J49/06
代理公司: 厦门南强之路专利事务所 35200 代理人: 刘勇
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种离子源引出装置,涉及一种质谱仪。提供一种无需采样锥,采样离子引出效率高,使用成本降低,并可有效提高质谱仪灵敏度的适合于固体样品直接电离的质谱仪的离子源引出装置。设有可拆式样品靶、射频多级杆、射频多级杆固定座和截取锥,可拆卸式样品靶、射频多级杆、射频多级杆固定座和截取锥同轴心线,可拆卸式样品靶正向面对射频多级杆,射频多级杆安装于射频多级杆固定座中,射频多级杆固定座与截取锥连接,截取锥安装在外部离子源腔体内,截取锥设有离子出射狭缝和至少1个径向背景气进气孔,离子出射狭缝位于截取锥中心。
搜索关键词: 一种 离子源 引出 装置
【主权项】:
一种离子源引出装置,其特征在于设有可拆式样品靶、射频多级杆、射频多级杆固定座和截取锥;可拆卸式样品靶、射频多级杆和截取锥同轴心线;可拆卸式样品靶正向面对射频多级杆;射频多级杆安装于射频多级杆固定座中,射频多级杆固定座与截取锥连接;截取锥安装在外部离子源腔内,截取锥设有离子出射狭缝和至少1个径向背景气进气孔;离子出射狭缝位于截取锥中心。
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