[实用新型]一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪无效

专利信息
申请号: 201020134455.X 申请日: 2010-03-15
公开(公告)号: CN201622111U 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 左爱斌;于梅 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00;G01B9/02
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人: 尹振启
地址: 100013*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪,包括激光器、第一分光器、第一反射镜、第二反射镜、声光调制器、第二分光器、1/4波片和探测器,激光器发出的激光经第一分光器分光,透射光依次经过第一反射镜反射、第二分光器透射后作为参考光,进入探测器;激光经第一分光器的反射光依次经过第二反射镜、声光调制器调制、第二分光器后作为测量光,并经1/4波片后用来测量被测物体,被测物体漫反射的反射光返回依次经1/4波片、第二分光器反射后形成有效测量光进入探测器,与参考光干涉。本实用新型解决了当被测物体处于漫反射状态时,在增大有效测量光的同时,减少返回到激光腔的反射光,从而降低光电信号的本底噪声,提高信噪比和测量精度,确保系统稳定。
搜索关键词: 一种 用于 振动 计量 噪声 外差 激光 干涉仪
【主权项】:
一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪,其特征在于,该干涉仪包括激光器、第一分光器、第一反射镜、第二反射镜、声光调制器、第二分光器、1/4波片和探测器,激光器发出的激光经第一分光器分光,透射光依次经过第一反射镜反射、第二分光器透射后作为参考光,进入探测器;激光经第一分光器的反射光依次经过第二反射镜、声光调制器调制、第二分光器后作为测量光,并经1/4波片后用来测量被测物体,被测物体漫反射的反射光返回依次经1/4波片、第二分光器反射后形成有效测量光进入探测器,与参考光干涉。
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