[实用新型]老化测试箱有效

专利信息
申请号: 201020207501.4 申请日: 2010-05-27
公开(公告)号: CN201716395U 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: 羡迪新;沈冲;王斌;陈剑晟;陈驰;高建辉 申请(专利权)人: 北京新润泰思特测控技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100088 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种老化测试箱,包括多个老化测试板,每个所述老化测试板上设置有多个老化测试插座,所述老化测试箱还具有多个加热器以及至少一个温度传感器,所述温度传感器检测所述老化测试箱内的温度,得到至少一个温度检测值,所述多个加热器根据所述至少一个温度检测值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭。本实用新型还公开了相应的老化测试系统。本实用新型的老化测试箱及老化测试系统可以改善加热的均匀性,提高老化测试结果的准确性。
搜索关键词: 老化 测试
【主权项】:
一种老化测试箱,包括多个老化测试板,每个所述老化测试板上设置有多个老化测试插座,其特征在于:所述老化测试箱还具有多个加热器以及至少一个温度传感器,所述温度传感器检测所述老化测试箱内的温度,得到至少一个温度检测值,所述多个加热器根据所述至少一个温度检测值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭。
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