[实用新型]一种针对FPGA芯片的通用测试装置有效
申请号: | 201020241716.8 | 申请日: | 2010-06-29 |
公开(公告)号: | CN201698002U | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 李杰;冯建科;张东 | 申请(专利权)人: | 北京自动测试技术研究所 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 陈曦 |
地址: | 100088*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种针对FPGA芯片的通用测试装置,包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵、芯片固定卡座和转接卡座;其中,主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接配置存储器和继电器矩阵;配置存储器连接在主控制器和继电器矩阵之间,用于存储各种FPGA芯片的配置文件;继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接固定在芯片固定卡座上的被测FPGA芯片。本FPGA芯片通用测试装置通过在配置存取器中存储多种FPGA芯片的配置文件,可以针对不同的FPGA芯片进行自动配置,从而满足各种FPGA芯片的测试要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 针对 fpga 芯片 通用 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种针对FPGA芯片的通用测试装置,其特征在于:所述通用测试装置包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵、芯片固定卡座和转接卡座;其中,所述主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接所述配置存储器和所述继电器矩阵;所述配置存储器连接在所述主控制器和所述继电器矩阵之间,用于存储各种FPGA芯片的配置文件;所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接固定在所述芯片固定卡座上的被测FPGA芯片。
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