[实用新型]层间偏移测量装置有效

专利信息
申请号: 201020248780.9 申请日: 2010-07-06
公开(公告)号: CN201715996U 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: 吕明* 申请(专利权)人: 瀚宇博德股份有限公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01R31/02
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人: 艾晶;周春发
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型层间偏移测量装置至少包含有:设于待测物上的对位靶标、至少一测试探针、一接地探针、至少一警示组件以及一负载,该对位靶标设有与该待测物相对应的复数层体,各层体于该对位靶标处设有导电层,该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔,该导电层与该接地孔接触,而与该镀通孔隔离相对,该测试探针可伸入接触对应的镀通孔,该接地探针可伸入接触对应的接地孔,该警示组件与测试探针形成电性连接,该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接,若其中有层体产生偏移,使得该层体的导电层与镀通孔形成短路,令相对应的警示组件通电发出警示,以判断此待测物为良品或瑕疵品。
搜索关键词: 偏移 测量 装置
【主权项】:
一种层间偏移测量装置,其特征在于,其至少包含有:一对位靶标,设于待测物上,该对位靶标设有与该待测物相对应的复数层体,各层体于该对位靶标处设有导电层,该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔,该导电层与该接地孔接触,而与该镀通孔隔离相对;至少一测试探针,该测试探针可伸入接触对应的镀通孔;一接地探针,该接地探针可伸入接触对应的接地孔;至少一警示组件,该警示组件与测试探针形成电性连接;以及一负载,该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接。
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