[实用新型]56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座无效

专利信息
申请号: 201020281967.9 申请日: 2010-08-02
公开(公告)号: CN201918561U 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 曹宏国 申请(专利权)人: 曹宏国
主分类号: H01R13/46 分类号: H01R13/46;H01R13/42;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 313119 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置,能对56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按56线1.27节距陶瓷四边引线片式载体封装元器件的结构设计和尺寸要求,将插座设计成两大组成部分,即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成,选用进口的耐高温型特种工程塑料,经高温注塑成型,插座体还起压紧装置作用,当钩受力向下翻转与座啮合时,被试器件压紧接触件。插座座体还有斜面对器件进行定位,可以方便器件放入或取出。接触件以铍青铜材料冲压成型,采用与被试器件引出线相对应的方式,并由中心对称、四面排列形式组成。
搜索关键词: 56 1.27 陶瓷 四边 引线 扁平封装 器件 老化 测试 插座
【主权项】:
一种56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:它是由插座体和接触件两个部分统一组成,插座体由座(2)、盖(6)和钩(8)组成,用于被试器件的自动压紧,插座体选用耐高温型工程塑料,经高温注塑成型工艺技术制造而成,接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于曹宏国,未经曹宏国许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020281967.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top