[实用新型]一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置无效
| 申请号： | 201020293190.8 | 申请日： | 2010-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN201724742U | 公开（公告）日： | 2011-01-26 |
| 发明（设计）人： | 夏彦文;孙志红;刘华 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。被测的平行激光束经过半透半反镜后将光变成透射光和反射光，反射光束通过倍频晶体变成二倍频光，透射光束通过第一延迟机构与二倍频光以位相匹配角入射到第一和频晶体上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号通过刀口遮挡、衰减片、柱面透镜和滤波片后进入第一CCD；经过第一和频晶体出射的基频光经过第二延迟机构与出射的二倍频光以位相匹配角入射到第二和频晶体上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经过刀口遮挡、衰减片、柱面透镜和滤波片后进入第二CCD，采用两个延迟机构对三阶自相关信号进行串行测量，使用两个CCD得到不同延迟区域的三阶自相关信号强度分布信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单发 超短 激光 脉冲 对比度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置，其特征是：被测的平行激光束经过半透半反镜（1）后将光变成透射光和反射光，透射光束依次经过第一延迟机构（2）和第一反射镜（3）出射基频光，反射光束经过第二反射镜（4）、倍频晶体（5）、第一滤光片（6）和半波片（7）后变成二倍频光，基频光和二倍频光以位相匹配角入射到第一和频晶体（8）上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第一刀口（9）遮挡、第一衰减片（10）、第一柱面透镜（11）和第二滤波片（12）后进入第一CCD（13）；经过第一和频晶体（8）出射的基频光依次经过第四反射镜（15）、第二延迟机构（16）、第五反射镜（17），经过第一和频晶体（8）出射的二倍频光经过第三反射镜（14）反射，基频光和二倍频光以位相匹配角入射到第二和频晶体（18）上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第二刀口（19）遮挡、第二衰减片（20）、第二柱面透镜（21）和第三滤波片（22）后进入第二CCD（23）。
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