[实用新型]微通道芯片检测装置无效

专利信息
申请号: 201020294300.2 申请日: 2010-08-17
公开(公告)号: CN201673155U 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 崔大祥;王贤松 申请(专利权)人: 上海交通大学;苏州康立达纳米生物工程有限公司
主分类号: G01N33/558 分类号: G01N33/558
代理公司: 上海衡方知识产权代理有限公司 31234 代理人: 包文超
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种微通道芯片检测装置,包括检测装置本体、1个以上检测芯片单元和磁体。检测芯片单元和磁体设于检测装置本体,所述磁体设于所述检测芯片单元的一端。检测芯片单元包括微通道主体、样品容器、检测槽和对照槽。本实用新型检测装置的磁体,对检测芯片单元施加磁场作用,使得待测样品中结合有磁性材料的目标分子在微通道主体内腔中向磁体方向进行迁移,并被固定于检测槽内的标记分子所捕获,从而解决了免疫渗滤技术和免疫侧向层析技术因硝酸纤维素膜微孔对目标分子迁移产生的限制,现实了对分子量偏大或分子Stocks半径较大的目标分子的检测。
搜索关键词: 通道 芯片 检测 装置
【主权项】:
一种微通道芯片检测装置,其特征在于包括检测装置本体、1个以上检测芯片单元和磁体,所述检测芯片单元和所述磁体设于所述检测装置本体,所述磁体设于所述检测芯片单元的一端。
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