[实用新型]集成电路封装片电性能测试夹具有效

专利信息
申请号: 201020298498.1 申请日: 2010-08-20
公开(公告)号: CN201788194U 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 徐银森;刘建峰;李承峰;胡汉球;苏建国;吴华 申请(专利权)人: 吴华
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供的一种集成电路分选机中使用的电性能测试夹具,由下到上依次包含测试座底板、测试座、导向板、压板、空气压头等组成部件。测试底座中连有全镀硬金探针,探针具有弹性伸缩功能,探针尖头部朝上,探针的位置与封装片引脚位置对应,探针的数量不少于封装片引脚的数量;压板上面连有接触插座;压头上连有气管。测试时,封装片放置于测试座和导向台之间。该夹具的各个部件设计加工精密,能够自动调节对集成电路封装片的压力,探针接触准确,测试精度高,操作方便,使用寿命长久。
搜索关键词: 集成电路 封装 性能 测试 夹具
【主权项】:
一种集成电路封装片电性能测试夹具,其特征在于:由下到上依次包含测试座底板(10)、测试座(6)、导向板(5)、接触插座(4)、压板(3)、空气压头(2)的组成部件;测试座底板(10)上连有弹性探针(9);空气压头(2)上连有气管(1),气管(1)中联通压缩空气,空气压头(2)为器件压紧的动力源,压力通过压板(3)与接触插座(4)传递,在导向台(5)的辅助导向下,作用在被测试的集成电路封装片(11)上;工作时,集成电路封装片放置于导向板(5)和测试座(6)之间,在空气压头(2)的压力作用下,弹性探针(9)使得集成电路封装片(11)的引脚触点与测试座有良好的电接触。
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