[实用新型]IC集成电路外观检测流道装置有效
| 申请号： | 201020502179.8 | 申请日： | 2010-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN201825502U | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 王晓华;李毛惠;吴忠其;曾坤灿 | 申请（专利权）人： | 江阴新基电子设备有限公司 |
| 主分类号： | B65G11/02 | 分类号： | B65G11/02 |
| 代理公司： | 江阴市同盛专利事务所 32210 | 代理人： | 唐纫兰 |
| 地址： | 214434 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种IC集成电路外观检测流道装置，适用于IC集成电路封装产品(如SOP系列)等的外形外观检测。所述流道装置包括玻璃管流道(3)、基座(5)和支持架(6)，所述玻璃管流道(3)固定在基座(5)上，基座(5)固定在支持架(6)上。本实用新型流道装置采用玻璃管流道结构，以方便对流道中产品一次进行多颗或整管检测，该装置无需设检查窗口。因此本实用新型IC集成电路外观检测流道装置结构简单，能成倍提高产能。 | ||
| 搜索关键词： | ic 集成电路 外观 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种IC集成电路外观检测流道装置，其特征在于所述流道装置包括玻璃管流道(3)、基座(5)和支持架(6)，所述玻璃管流道(3)固定在基座(5)上，基座(5)固定在支持架(6)上。
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