[实用新型]快速测量平面度的点触式检具有效

专利信息
申请号: 201020508492.2 申请日: 2010-08-27
公开(公告)号: CN201852553U 公开(公告)日: 2011-06-01
发明(设计)人: 李维明;岑祥荣 申请(专利权)人: 广东鸿特精密技术股份有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 华辉
地址: 526070 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种快速测量平面度的点触式检具,包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件,所述平模板设置有镂空凹槽,所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。本实用新型与现有技术相比,其有益效果为:1、结构简单,制造容易,专用量规系列化后方便、快捷又准确地完成支架、箱体类不规则形状零件平面度等关键位置的检测,单件检测用时由CMM检测的75~85秒缩短为25~30秒,有效地提高了检测效率;2、可以通过SPC监控过程,有效的防止不合格产品的产生。
搜索关键词: 快速 测量 平面 点触式检具
【主权项】:
一种快速测量平面度的点触式检具,其特征在于:包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件,所述平模板设置有镂空凹槽,所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。
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