[实用新型]电子元件的测试装置无效
申请号: | 201020512490.0 | 申请日: | 2010-09-01 |
公开(公告)号: | CN201812003U | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 蔡丽文;何震宏 | 申请(专利权)人: | 景美科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;张燕华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种电子元件的测试装置,包括:基板、连接板、承载板、绝缘构件及多个探针;基板布设有电气接点,连接板固定在基板且设有开口,承载板固接于连接板且在对应开口位置设有第一槽孔及第二槽孔,绝缘构件具有平板及自平板延伸出的定位凸块,平板跨接在第一槽孔,定位凸块则穿接第二槽孔,定位凸块开设有针孔,每一探针的一端电性连接电气接点,另一端则穿出针孔以与电子元件电性连接;借由将绝缘构件承托于承载板上,能够有效防止承载板下方的螺丝松动而碰触到欲测试的电子元件,以维持探针测试过程的质量及整个测试装置的结构强度。 | ||
搜索关键词: | 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种电子元件的测试装置,其特征在于,包括:一基板,布设有多个电气接点;一连接板,固定在该基板,该连接板在对应该多个电气接点位置设有一开口;一承载板,固接于该连接板,该承载板在对应该开口位置开设有呈阶梯状的一第一槽孔及一第二槽孔;一绝缘构件,具有一平板及自该平板延伸出的一定位凸块,该平板跨接在该第一槽孔,该定位凸块则穿接该第二槽孔,该定位凸块设有多个针孔;以及多个探针,每一该探针的一端电性连接该电气接点,另一端则穿出该针孔以与所述电子元件电性连接。
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