[实用新型]一种半导体功率器件的热阻测试仪有效
| 申请号： | 201020521051.6 | 申请日： | 2010-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN201773168U | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 闫伟;汪江涛;陈凤霞;吴洪江;默立冬 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 夏素霞 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 一种半导体功率器件的热阻测试仪，解决了由于单台热阻测试仪只能测量单类型的器件热阻的技术问题，采用的技术方案是，电路结构中包括带有配套管理程序的CPU、热阻测试电路、以及热阻测试参数采集电路，上述的热阻测试仪的电路结构中增设插件接口电路以及开关转换电路。本实用新型的关键是，通过在热阻测试仪中增设插件接口电路和开关转换电路，借助插件接口电路识别被测器件类型，由开关转换电路切换相应的测试子电路接入被测器件测试引脚端进行测试，实现了单台热阻测试仪能够对不同类型的器件进行热阻测试，节约了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 功率 器件 测试仪 | ||
【主权项】：
一种半导体功率器件的热阻测试仪，电路结构中包括带有配套管理程序的CPU(1)、设有测试恒流源(2 1)、加热恒流源(2 2)、加热电压源(2 3)的热阻测试电路(2)、以及采集被测器件(5)端电压和壳温的热阻测试参数采集电路(3)，其特征在于：所述的热阻测试仪的电路结构中增设连接被测器件的插件接口电路(4)以及开关转换电路(6)，CPU(1)借助插件接口电路(4)中的编码电路采集被测器件(5)引脚信息、解码计算处理后输出控制信号至开关转换电路(6)的受控端，开关转换电路(6)借助继电器的触点吸合分别将测试恒流源(2 1)、加热恒流源(2 2)或加热电压源(2 3)接入被测器件(5)的测试端。
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