[实用新型]用于检测发光二极管芯片的偏移量的检测装置有效
| 申请号： | 201020601511.6 | 申请日： | 2010-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN201892523U | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 汪秉龙;陈桂标;陈信呈 | 申请（专利权）人： | 久元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;张燕华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于检测发光二极管芯片的偏移量的检测装置，其包括：一检测平台及一芯片偏移量检测模块。检测平台具有一可移动的中空平台，其中一具有多个发光二极管芯片的置晶薄膜置放于检测平台的中空平台上。芯片偏移量检测模块具有至少一设置于中空平台的上方且用于检测该些发光二极管芯片的偏移量的芯片偏移量检测元件。因此，本实用新型除了可免除人工操作及墨水浪费外，更能通过计算机以计算出不良发光二极管芯片的数量及区域，进而使移除不良发光二极管芯片的工艺更为方便。此外，本实用新型也可使用芯片偏移量检测模块，以有效针对多个发光二极管芯片进行偏移量的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 发光二极管 芯片 偏移 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测发光二极管芯片的偏移量的检测装置，其特征在于，该检测装置包括：一检测平台，其具有一能够移动的中空平台，其中一具有多个发光二极管芯片的置晶薄膜置放于该检测平台的中空平台上；以及一芯片偏移量检测模块，其具有至少一设置于该中空平台的上方且用于检测该多个发光二极管芯片的偏移量的芯片偏移量检测元件。
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