[实用新型]40路薄膜电容耐久性试验装置

摘要

本实用新型涉及一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压器、多组容量可选择的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘箱构成；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，根据同时测试薄膜电容的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路薄膜电容电流测试电路，其中20路薄膜电容电流测试电路的每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容电流。

主权项

一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压器、多组容量可选择或组合的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘箱构成；其特征在于，所述升压调压器通过控制面板上的按钮控制调速电机M来自动调压；所述高温测试烘箱采用单独一个烘箱，对批量统一测试的所有薄膜电容集中烘烤，所述烘箱内的温度由电气控制系统中的温控器PT控制；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，所述20路薄膜电容电流测试电路的每路由电流互感器TA、小型断路器QF、双路选择开关和测试薄膜电容C组成，20路并联后连接在经升压调压器调压后的输出电源总线上；所述双路选择开关的每路设有测试端，分别连接测试夹具的插板测试端，每路插板测试端固定有测试薄膜电容C，且控制两路测试薄膜电容C通断的双路选择开关电路的两端并联有电容指示灯HL’；所述电流互感器TA的低压输出侧接入所述小型断路器QF的输出脚上；根据同时测试薄膜电容C的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器L档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路小型断路器QF的输入端，20路小型断路器QF输出后每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容C进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容电流。