[实用新型]镀层厚度测量装置

摘要

本实用新型涉及一种镀层厚度测量装置，其包括：X射线管，与高压电源相连接，发射出X射线，所述X射线的发射方向向上；准直器，设置在所述X射线管与被测物质之间；射线安全联锁机构，设置在X射线管与准直器之间；射线检测器，接收X射线照射到被测物质后发出的荧光信号，并转化为电信号；前置放大器、主放大器、多道分析器与中央控制电路顺序连接；计算机，与所述中央控制电路相连接，接收所述中央控制电路采集的电信号并进行数据处理与计算，获得被测物质的测量结果。本实用新型采用下照式检测结构，测量时只需要将被测物质的被测面朝下放置在检测台上即可，从而使仪器结构简单，使用方便。

主权项

一种镀层厚度测量装置，其特征在于，该镀层厚度测量装置包括：高压电源，用于提供高压电源；X射线管，设置于整个镀层厚度测量装置下方，与所述高压电源相连接，由高压电源激发发射出X射线，所述X射线的发射方向向上；准直器，设置在所述X射线管与被测物质之间，将X射线准直；射线安全联锁机构，设置在X射线管与准直器之间；射线检测器，用于接收X射线照射到被测物质后发出的荧光信号，并将该荧光信号转化为电信号；中压电源；与所述射线检测器相连接，提供给所述射线检测器工作电源；前置放大器、主放大器、多道分析器与中央控制电路顺序连接，所述电信号依次通过所述前置放大器、主放大器、多道分析器后到达中央控制电路，由中央控制电路采集；计算机，与所述中央控制电路相连接，接收所述中央控制电路采集的电信号并进行数据处理与计算，获得被测物质的测量结果；低压电源，分别与所述前置放大器和主放大器相连，提供所述前置放大器、主放大器、多道分析器、中央控制电路和计算机的工作电源。