[实用新型]一种单晶切方断面找正测量装置有效
| 申请号： | 201020647831.5 | 申请日： | 2010-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN201892512U | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 吕思迦;吴涛 | 申请（专利权）人： | 宁晋晶峰电子材料有限公司;晶龙实业集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/245 | 分类号： | G01B5/245 |
| 代理公司： | 石家庄汇科专利商标事务所 13115 | 代理人： | 刘闻铎 |
| 地址： | 055550 河北省邢台*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种单晶切方断面找正测量装置，包括底座、垂直连接在底座上的支架、与支架上端垂直连接的横梁；所述横梁的的另一端部垂直设置有卡板。横梁端部垂直设置的卡板，使整个横梁呈现横“T”型，相当于一个不带刻度的标尺，用于定位所切单晶方棒的垂直度。本实用新型结构简单，操作方便，加工精度高，并且实用性极强，采用本实用新型加工的单晶方棒端面与表皮垂直的概率可达100%，有效预防了异形单晶断面不平齐的加工难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单晶切方 断面 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种单晶切方断面找正测量装置，包括底座（1）和垂直固定在底座上的支架（2），其特征在于：所述支架（2）上装配有与支架（2）相垂直的横梁（3）；所述横梁（3）的一端设置有与支架（2）相垂直的卡板（4）。
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