[发明专利]视差检测装置、测距装置及视差检测方法无效
| 申请号： | 201080002259.X | 申请日： | 2010-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN102113013A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 大山一朗 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06T1/00 | 分类号： | G06T1/00;G01C3/06 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王成坤;胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 目的在于，提供视差检测装置(3)等，即使在使用透镜的解析度比摄像元件的像素间距低的照相机的情况下，也能够抑制视差检测误差。一种视差检测装置(3)，计算多个光学系统间产生的视差，该视差检测装置具备：PSF相同化部(5)，对从多个光学系统的各个光学系统得到的多个图像中的至少一个图像进行校正，以使多个光学系统的点像分布与规定的光学系统的点像分布相同；以及视差计算部(9)，利用由PSF相同化部(5)进行了校正的图像，计算多个光学系统间产生的视差。 | ||
| 搜索关键词： | 视差 检测 装置 测距 方法 | ||
【主权项】：
一种视差检测装置，计算多个光学系统间产生的视差，具备：点像分布相同化部，对从上述多个光学系统中的各个光学系统得到的多个图像中的至少一个图像进行校正，以使上述多个光学系统的点像分布与规定的光学系统的点像分布相同；以及视差计算部，利用由上述点像分布相同化部进行了校正的图像，计算上述多个光学系统间产生的视差。
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