[发明专利]珍珠品质的非破坏判定方法有效
| 申请号： | 201080002848.8 | 申请日： | 2010-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN102549411B | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 永井清仁;平松润一;岩桥德典 | 申请（专利权）人： | 株式会社御木本 |
| 主分类号： | G01N21/87 | 分类号： | G01N21/87;G01N21/27;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 吴娟;高旭轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和/或紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。本发明还涉及珍珠品质的非破坏性检查装置。根据本发明，可以非破坏性地、并且简便且快速判定目标珍珠或珍珠贝壳的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 珍珠 品质 破坏 判定 方法 | ||
【主权项】：
非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱、或者作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质，作为上述反射光谱，测定波长250～260 nm的分光反射率Ra和波长270～290 nm的分光反射率Rb，求出两者之比即分光反射比R(a/b)或两者之差，基于此进行判定，作为上述荧光光谱，以波长250～300 nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长320～360 nm的荧光强度。
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