[发明专利]配置为至少部分地插入到混浊介质中的光学检查装置有效
| 申请号： | 201080005052.8 | 申请日： | 2010-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN102292019A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | A·E·德雅尔丹;M·B·范德马克;B·H·W·亨德里克斯;G·T·霍夫特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 陈松涛;蹇炜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种光学检查装置(10)，被配置为至少部分地插入到混浊介质中。所述光学检查装置包括杆部(21)，所述杆部(21)被配置为插入到所述混浊介质中，所述杆部(21)包括尖端部(22)，所述尖端部(22)被配置为在插入到所述混浊介质中期间的最前部。至少一个光源装置，被配置为发射宽带光的光束(11)，并且设置在所述杆部(21)的区域中。所述宽带光的光束(11)包括受到不同调制的不同波长带(2a，2b，…，2n)。至少一个光电探测器(27a，27b，27c)，用于探测宽带光，并且设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的区域中。 | ||
| 搜索关键词： | 配置 至少 部分 插入 混浊 介质 中的 光学 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种光学检查装置(10)，被配置为至少部分地插入到混浊介质中，所述光学检查装置包括杆部(21)，所述杆部(21)被配置为插入到所述混浊介质中，所述杆部(21)包括尖端部(22)，所述尖端部(22)被配置为在插入到所述混浊介质中期间为最前部，其中被配置为发射宽带光的光束(11)的至少一个光源装置设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的区域中，所述宽带光的光束(11)包括受到不同调制的不同波长带(2a，2b，...，2n)；以及用于探测宽带光的至少一个光电探测器(27a，27b，27c)设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的所述区域中。
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