[发明专利]膜张力测定装置有效
| 申请号： | 201080005710.3 | 申请日： | 2010-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN102301215A | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 大森博司;陈商煌;石津信彦;武田文义;藤原淳 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人名古屋大学;太阳工业株式会社 |
| 主分类号： | G01L5/10 | 分类号： | G01L5/10 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种膜张力测定装置，包括：矩形框体(5)，其能够与施加有张力(Tx、Ty)的膜体(2)的膜面(4)抵接；音波产生装置(17)，其朝被框体(5)包围的膜体(2)的一部分(2a)发出音波(16)；振动检测装置(24)，其检测由音波(16)使膜体(2)的一部分(2a)产生的振动；及运算装置(29)，其基于振动检测装置(24)所检测出的振动数据计算张力(Tx、Ty)。音波产生装置(17)、振动检测装置(24)以及运算装置(29)分别安装于框体(5)。 | ||
| 搜索关键词： | 张力 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种膜张力测定装置，其特征在于包括：矩形框体，其能够与施加有张力的膜体的膜面抵接；音波产生装置，其朝由所述框体包围的所述膜体的一部分发出音波；振动检测装置，其检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动；及运算装置，其基于所述振动检测装置所检测出的振动数据计算所述张力，其中，所述音波产生装置、所述振动检测装置以及所述运算装置分别安装于所述框体。
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