[发明专利]用于力测量装置的校准装置和力测量装置有效
申请号: | 201080006909.8 | 申请日: | 2010-02-05 |
公开(公告)号: | CN102326058A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | G·范克豪泽;M·于斯泰尔;M·厄塞;F·施奈德 | 申请(专利权)人: | 梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
主分类号: | G01G23/01 | 分类号: | G01G23/01 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 瑞士格*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于力测量装置(1)、特别是称重装置的校准装置(40),所述校准装置具有可电控的力产生部件(41),所述力产生部件可以使预定力(FC)可施加到力测量单元(10)的方式接合到力测量装置(1)的力测量单元(10),使得力测量单元(10)产生测量信号(SF),所述测量信号(SF)与施加的力(FC)相关,且可传递到处理单元(60,PU),在所述处理单元处,测量信号可与预定力(FC)相关地被处理。在这种情况下,校准装置(40)包括校准控制单元(50,CCU),表征力测量装置(1)和/或校准装置(40)的至少一个预定参数(P)可始终被提供给所述校准控制单元(50,CCU)使用,其中,校准控制单元(50,CCU)可借助于通信线路(52)连接到处理单元(60,PU),以便与处理单元交换信息信号(SCD),且校准控制单元(50,CCU)被构造成基于信息信号(SCD)和参数(P)产生控制信号,以便从而控制力产生部件(41)。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 装置 校准 | ||
【主权项】:
一种力测量装置(1)、特别是称重装置的校准装置(40),所述校准装置具有可电控的力产生部件(41),所述力产生部件被设计成用于以使预定力(FC)可施加到力测量装置(1)的力测量单元(10)的方式接合到力测量单元(10),使得力测量单元(10)产生测量信号(SF),所述测量信号(SF)与施加的力(FC)相关,且可传递到力测量单元的处理单元(60,PU),在所述处理单元处,测量信号可与预定力(FC)相关地被处理,其特征在于,校准装置(40)包括校准控制单元(50,CCU),表征力测量装置(1)和/或校准装置(40)的至少一个预定参数(P)可始终被提供给所述校准控制单元(50,CCU)使用,其中,校准控制单元(50,CCU)可借助于通信线路(52)连接到处理单元(60,PU),以便与处理单元(60,PU)交换信息信号(SCD),且校准控制单元(50,CCU)被构造成基于信息信号(SCD)和参数(P)产生控制信号,以便从而控制力产生部件(41)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于梅特勒-托利多公开股份有限公司,未经梅特勒-托利多公开股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080006909.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。