[发明专利]被检体信息分析装置以及被检体信息分析方法有效
| 申请号： | 201080007931.4 | 申请日： | 2010-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN102439418A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 印南岳晴;五十岚诚 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社;奥林巴斯医疗株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;A61B8/08;A61B10/00;G01N29/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 被检体信息分析装置具有：光检测器，其从被照射第一频率的超声波的被检体中的检查对象部位接收作为对于第二频率的照射光的散射光的经频率调制的光；信息提取部，其提取经频率调制的光中的频移了第一频率的整数倍的特定频率的信息；以及特征信息生成部，其根据所提取的特定频率的信息来生成与构成检查对象部位的结构组织的组成比率有关的特征信息。 | ||
| 搜索关键词： | 被检体 信息 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种被检体信息分析装置，其特征在于，具备：受光单元，其从被照射第一频率的超声波和第二频率的照射光的被检体中的检查对象部位接收作为对于上述照射光的散射光的经频率调制的光；信息提取单元，其提取上述经频率调制的光中的频移了上述第一频率的整数倍的特定频率的信息；以及特征信息生成单元，其根据通过上述信息提取单元提取出的上述特定频率的信息生成与构成上述检查对象部位的结构组织的组成比率有关的特征信息。
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