[发明专利]用于测试面板的探测装置有效
| 申请号： | 201080011466.1 | 申请日： | 2010-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN102348991A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 任利彬;许南重;赵濬秀 | 申请（专利权）人： | 普罗-2000有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种用于测试面板的探测装置。所述探测装置包括主体部和柔性印刷电路板(FPCB)。所述主体块，具有底部，在所述底部上安装有用于所述面板中的卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)，并且所述卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)与所述面板的引线接触，在与所述TAB IC和所述面板之间的接触部分相对的一侧形成缓冲块，所述缓冲块用于保持所述接触部分的平面度，并向所述接触部分提供弹力。所述FPCB，电连接到所述TAB IC的后部并且经由所述TAB IC向所述面板传输测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 面板 探测 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试面板的探测装置，所述探测装置包括：主体块，具有底部，在所述底部上安装有用于所述面板中的卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)，并且所述卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)与所述面板的引线接触，在所述主体块中，在与所述TAB IC和所述面板之间的接触部分相对的一侧形成缓冲块，所述缓冲块向所述接触部分提供弹力和压力；以及柔性印刷电路板(FPCB)，电连接到所述TAB IC的后部并且经由所述TAB IC向所述面板传输测试信号。
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