[发明专利]距离测量方法和距离测量设备无效
申请号: | 201080013692.3 | 申请日: | 2010-03-19 |
公开(公告)号: | CN102362147A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 增田智纪 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01C3/06 | 分类号: | G01C3/06 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陆锦华;刘光明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种距离测量方法,其包括以下步骤:利用两个成像构件拍摄被摄体,两个成像构件之间设置了预定的基线长度;和获得关于拍摄的图像对中对应点的距离数据。利用期望值的基线长度执行第一次摄影操作。然后,执行n次摄影操作,同时在每次摄影操作时将基线长度改变L(m+1/n)、L(m+2/n)...L(m+(n-1)/n),其中L是成像构件的像素间距,m是任意自然数,以及n是大于或等于2的整数。从利用视差计算部(23)为n次摄影操作获得的视差量中,通过记录判定部(24)提取每次摄影操作共同的预定范围内的视差量。根据提取的视差量获得距离数据。 | ||
搜索关键词: | 距离 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】:
一种距离测量方法,用于根据被摄体的图像对中对应点之间的视差量,获得关于所述对应点的距离数据,所述图像对用两个在其间设置有预定基线长度的成像构件拍摄被摄体而获得,所述方法的特征在于:以设定为任意值的基线长度进行第一次摄影操作;在第一次摄影操作之后进行n次摄影操作,同时在每次摄影操作时将基线长度改变L(m+1/n)、L(m+2/n)...L(m+(n‑1)/n),其中L是成像构件的像素间距,m是任意自然数,以及n是大于或等于2的整数;从利用n次摄影操作获得的视差量中提取每次摄影操作共同的预定范围内的视差量;和基于提取的视差量获得距离数据。
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