[发明专利]用于改良电子装置的测试的系统和方法无效
| 申请号： | 201080013961.6 | 申请日： | 2010-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN102812372A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 道格拉斯·贾西亚;维农·库克;史班瑟·巴瑞特 | 申请（专利权）人： | 伊雷克托科学工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66;H01L33/48 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;姜精斌 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭露一种藉由在高速下测试与分类电光装置(52)的电性与光学特性两者的改良方法与装置。电光装置(52)，尤其是发光二极管，其藉由单一化装置(14)被单一化并且被传送到线性轨道(12)，它们在此处测试(20)电性与光学特性。该些装置随后依据测试特性被分类(26)到很多不同的箱子(24)内。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 改良 电子 装置 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种使用一自动测试系统来测试与分类具有第一与第二特性的电子装置的改良方法，该改良方法包含：提供该自动测试系统，其具有一转动单一化机构、一线性轨道、第一与第二测试台以及至少一个分类箱，所有均与一控制器联系；以该转动单一化机构将该电子装置单一化；将该被单一化的电子装置从该转动单一化机构传送到该线性轨道；将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该第一测试台；以该第一测试台来测试该电子装置的该第一特性；将该第一测试结果储存在该控制器上；将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该第二测试台；以该第二测试台来测试该电子装置的该第二特性；将该第二测试结果储存在该控制器上；将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该至少一个分类箱，在其上，该控制器引导该分类箱，以因应该被储存的第一与第二测试结果从该轨道取得该电子装置，从而将该电子装置分类。
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