[发明专利]光照射装置及光测定装置有效

专利信息
申请号: 201080013971.X 申请日: 2010-01-26
公开(公告)号: CN102365544A 公开(公告)日: 2012-02-29
发明(设计)人: 片冈卓治;伊藤平良 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/03
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种光照射装置等,其可降低来自设置于微量盘(microplate)的多个井的背景光噪声。该光照射装置具备微量盘(20)、导光部件(60)、及光源装置(62)。导光部件(60)具备对应于多个井(21)而设置于主面(61a)的多个光出射部。各光出射部包含在主面(61a)上具有开口的凹部(61e)。来自光源装置(62)的测定光从侧面(61b)入射后,在各凹部(61e)的侧面折射及反射,从各凹部(61e)的开口出射。通过该结构,可大幅降低从背面(23)所入射的测定光中向背面(23)垂直入射的测定光成分。因此,可有效降低因对应于测定光照射而产生的来自各井(21)的背景光噪声。
搜索关键词: 照射 装置 测定
【主权项】:
一种光照射装置,其特征在于,用于从微量盘的背面侧向该微量盘照射测定光,所述微量盘具有二维配置有用于容纳测定对象物的多个井的主面,及与该主面相对的背面,所述光照射装置包含:光源,输出从所述微量盘的背面侧向所述多个井分别照射的测定光;及导光部件,使从所述光源输出的测定光在其内部传播,且具有:直接面对所述微量盘的背面的主面、与该主面相对的背面、及作为与这些主面及背面交叉的面的入射来自所述光源的测定光的侧面,所述导光部件具有多个光出射部,其分别对应于所述微量盘的多个井而设置在该导光部件的主面上,且分别控制所述测定光的出射方向,以避免在所述导光部件内传播的测定光从垂直于所述微量盘的背面的方向入射。
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