[发明专利]数据处理系统中具有窥探能力的存储器测试有效

专利信息
申请号: 201080014331.0 申请日: 2010-03-23
公开(公告)号: CN102369512A 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: G·R·莫里森 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F12/02;G06F9/06;G06F13/14
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 申发振
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种测试存储器(14)的方法,包括生成(62、66)诸如测试地址(46)的多个地址,访问(64、68)多个地址中的每一个的内容并且在存储电路(32、34)中存储它们,在多个地址上执行(70)测试,通过发送访问地址给窥探电路(36)来访问(84、86)存储器测试电路,确定(88)访问地址是否与多个地址中的至少一个匹配并且响应于该确定而生成至少一个命中指示符(52、54),生成(92)窥探未命中指示符(27),确定(94)其是否指示未命中,如果其指示未命中,则响应于访问地址而访问(96)存储器,以及如果其没有指示未命中,则或者(98)将窥探数据(23)从互连主控器(12)存储至存储电路的所选部分或者从存储电路的所选部分读取窥探数据到互连主控器。
搜索关键词: 数据处理系统 具有 窥探 能力 存储器 测试
【主权项】:
一种测试存储器的方法,所述方法包含:生成第一地址以作为待测试地址(AUT);访问所述存储器中所述AUT的内容并且将所述内容存储至待测试地址(AUT)寄存器中;生成与所述存储器的一部分对应的多个地址;访问存储器中的所述多个地址中的每一个的内容并且将所述内容存储至多个寄存器;于所述存储器中在所述AUT和所述多个地址上执行存储器测试;在互连主控器内生成访问地址;在存储器测试电路的窥探电路内接收所述访问地址;确定所述访问地址是否与所述AUT匹配并且响应于该确定而生成第一命中指示符;确定所述访问地址是否与所述多个地址中的至少一个匹配并且响应于该确定而生成多个命中指示符;在窥探电路内生成窥探未命中指示符;确定所述窥探未命中指示符是否因为所述访问地址与所述AUT和所述多个地址中的至少一个不匹配而指示未命中;如果所述窥探未命中指示符指示未命中,则响应于所述访问地址而访问所述存储器;以及如果所述窥探未命中指示符没有指示未命中,或者将窥探数据从所述互连主控器存储至包含所述AUT寄存器和所述多个寄存器的组中的所选寄存器,其中基于所述第一命中指示符和所述多个命中指示符中的至少一个来确定所述所选寄存器,或者将所述窥探数据从包含所述AUT寄存器和所述多个寄存器的组中的所述所选寄存器读取到所述互连主控器。
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